1. Digital design and fabrication
پدیدآورنده: / Vojin Oklobdzija
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Computer engineering,Production engineering
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
2. High performance memory testing
پدیدآورنده: / R. Dean Adams
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Semiconductor storage devices--Testing,Computer storage devices--Testing
رده :
TK
,
7895
,.
M4
,
A27
,
2003
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. High performance memory testing
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Semiconductor storage devices ; Testing. ; Computer storage devices ; Testing. ;
![](/design/images/bookmore.png)
4. Laser in der Technik / Vorträge des 11. Internationalen Kongresses / Proceedings of the 11th International Congress / herausgegeben von Wilhelm Waidelich.
پدیدآورنده: Laser in Engineering :
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Control, Robotics, Mechatronics.,Electronics and Microelectronics, Instrumentation.,Electronics.
![](/design/images/bookmore.png)
5. Memory & LSI: digest of papers
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Testing ، Integrated circuits,Congresses ، Integrated circuits-- Large scale integration,Congresses ، Semiconductor storage devices-- Testing,Congresses ، Microprocessors-- Testing
رده :
TK
7874
.
S42
1976
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
6. Proceedings
پدیدآورنده: International Test Conference
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
7. Proceedings: International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
پدیدآورنده: / edited by F. Lombardi, R. Rajsuman, and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Council
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)
موضوع: Semiconductor storage devices,Random access memory,-- Testing Congresses,-- Congresses
رده :
621
.
39732
I11P
1997
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
8. Records of the ... IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses,، Random access memory-- Congresses
رده :
TK
7895
.
M4
.
I335
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
9. Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 7-8 August 2000, San Jose, California
پدیدآورنده: edited by R. Rajsuman and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Semiconductor storage devices,Congresses ، Random access memory
رده :
TK
7895
.
M4
I334
2000
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
10. Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, August 8-9, 1994, San Jose, California
پدیدآورنده: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing )1994 : San Jose, Calif.(
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Semiconductor storage devices - Testing - Congresses , Random access memory - Congresses
رده :
TK
7895
.
M4
I334
1994
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
11. Records of the 1999 IEEE International Workshop on memory Technology, Design and Testing, August 9-10, 1999, San Jose, Calif., USA
پدیدآورنده: edited by R. Rajsuman and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology; in cooperation with the IEEE Solid-State Circuits Society
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: Testing -- Congresses ، Semiconductor storage devices,Congresses ، Random access memory
رده :
TK
7895
.
M4I44
1999
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
12. The electronics handbook
پدیدآورنده: / editor-in-chief, Jerry C. Whitaker
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Electronic circuits--Handbooks, manuals, etc
رده :
TK7867
.
E4244
2005
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)